Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods

Abstract

Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors' research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits. W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynlk pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika А/С. Oszacowanie wartości tego szumu jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia szczegółowej analizy wykorzystano dwa niezależne żródła sygnałów i dwa układy przetworników А/С.