https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/20203| Title: | Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS |
| Authors: | Совин, Я. Р. Наконечний, Ю. М. Чінка, В. М. Тишик, І. Я. |
| Bibliographic description (Ukraine): | Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп’ютерні системи та мережі. – С. 168–175. – Бібліографія: 10 назв. |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | Видавництво Львівської політехніки |
| Keywords: | генератори випадкових чисел тести NIST STS STM32F4xx random number generators NIST STS tests |
| Abstract: | Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of hardware random number generator of microcontrollers STM32F4XX family with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators for cryptographic applications. |
| URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/20203 |
| Content type: | Article |
| Appears in Collections: | Комп'ютерні системи та мережі. – 2012. – №745 |
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 27-168-175.pdf | 330.64 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.