Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/19495
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЯцук, Ю. В.-
dc.contributor.authorЯнович, Р. Р.-
dc.contributor.authorЯцук, В. О.-
dc.date.accessioned2013-06-10T13:03:14Z-
dc.date.available2013-06-10T13:03:14Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.citationЯцук Ю. В. Багатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних систем / Ю. В. Яцук, Р. Р. Янович, В. О. Яцук // Автоматика / Automatics – 2011 : матеріали XVIII Міжнародної конференції з автоматичного управління, 28–30 вересня 2011 року, Львів / Національна академія наук України [та інші]. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 228–229. – Бібліографія: 5 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/19495-
dc.description.abstractThe many-valued resistance measure for automatic metrological checking complication system is described in this paper. That measure is built on resistance imitator of Ohm law basis. The high resolution, accuracy, distance transfer resistance possibilities is benefits of this resistance measure.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectcode-control resistance measureuk_UA
dc.subjectresistance imitatoruk_UA
dc.subjectfour terminal connectionuk_UA
dc.titleБагатозначні міри опору для автоматизованого метрологічного контролю складних системuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Автоматика / Automatiсs. – 2011 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
124-Yatsuk-228-229.pdf233.7 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.