Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/15436
Title: Thickness-dependent magnetotransport properties of La0.6Sr0.2Mn1.2O3 films on SrTiO3 and LaAlO3 substrates
Authors: Tovstolytkin, A.
Polek, T.
Matviyenko, A.
Zakharenko, M.
Semen’ko, M.
Pashchenko, A.
Bibliographic description (Ukraine): Thickness-dependent magnetotransport properties of La0.6Sr0.2Mn1.2O3 films on SrTiO3 and LaAlO3 substrates / A. Tovstolytkin, T. Polek, A. Matviyenko, M. Zakharenko, M. Semen’ko, A. Pashchenko // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 270–271. – Bibliography: 8 titles.
Issue Date: 2012
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: doped manganites
thin films
magnetoresistanc
Curie temperature
strained layer
Abstract: Electric and magnetoresistive properties of La0.6Sr0.2Mn1.2O3 films deposited on SrTiO3 (001) and LaAlO3 (001) single crystalline substrates by magnetron sputtering have been studied. Characteristic features of the evolution of resistivity, magnetoresistance and Curie temperature upon the decrease of film thickness from 500 to 12.5 nm are specified. A key role of a thin strained layer adjacent to the substrate is demonstrated. The critical thicknesses of the strained layer are calculated for the films deposited on different substrates.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15436
Content type: Article
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
124_270_271_OMEE_2012.pdf
  Restricted Access
91.15 kBAdobe PDFView/Open Request a copy
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.