https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/15219
Title: | Poling behaviour of technical ferroelectrics studied by in-situ neutron diffraction |
Authors: | Hoelzel, M. Hinterstein, M. Kungl, H. Jo, W. Fuess, H. |
Bibliographic description (Ukraine): | Poling behaviour of technical ferroelectrics studied by in-situ neutron diffraction / M. Hoelzel, M. Hinterstein, H. Kungl, W. Jo, H. Fuess // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 94–95. – Bibliography: 3 titles. |
Issue Date: | 2012 |
Publisher: | Видавництво Львівської політехніки |
Keywords: | ferroelectrics neutron diffraction piezoelectrics |
Abstract: | Neutron diffraction studies on technical ferroelectric ceramics under the influence of high electric fields were performed to establish correlations between the macroscopic poling behaviour and corresponding structural changes. The investigations were carried out on bulk samples of lanthanum doped lead zirconate titanate (PLZT) with compositions around the morphotropic phase boundary and also on a bismuth sodium titanate based system (BNTBT-KNN). In two compositions of the system BNT-BT-KNN, the large field induced macroscopic strain could be explained by a phase transformation during the poling process. PLZT samples were investigated under various orientations of the electric field to examine domain switching and strain effects. |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15219 |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р. |
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
38_94_95_OMEE_2012.pdf Restricted Access | 102.58 kB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.