Inelastic-elastic properties of SiO2, SiO2 + TiO2 + ZrO2

Onanko, A. P.; Kulish, M. P.; Lyashenko, O. V.; Prodayvoda, G. T.; Vyzhva, S. A.; Onanko, Y. A.

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Onanko, A. P.	-
dc.contributor.author	Kulish, M. P.	-
dc.contributor.author	Lyashenko, O. V.	-
dc.contributor.author	Prodayvoda, G. T.	-
dc.contributor.author	Vyzhva, S. A.	-
dc.contributor.author	Onanko, Y. A.	-
dc.date.accessioned	2012-10-11T08:00:08Z	-
dc.date.available	2012-10-11T08:00:08Z	-
dc.date.issued	2012	-
dc.identifier.citation	Inelastic-elastic properties of SiO2, SiO2 + TiO2 + ZrO2 / A. P. Onanko, M. P. Kulish, O. V. Lyashenko, G. T. Prodayvoda, S. A. Vyzhva, Y. A. Onanko // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 81–82. – Bibliography: 6 titles.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15174	-
dc.description.abstract	A non-destructive method for the technological control of the structure defects in SiO2 + Si wafers by measuring the internal friction background difference on the nearby harmonics f1 and f2 after mechanical and heat treatments.	uk_UA
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	Видавництво Львівської політехніки	uk_UA
dc.subject	elastic module	uk_UA
dc.subject	internal friction	uk_UA
dc.subject	structure defects	uk_UA
dc.subject	dislocations	uk_UA
dc.subject	microstructure	uk_UA
dc.title	Inelastic-elastic properties of SiO2, SiO2 + TiO2 + ZrO2	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
Appears in Collections:	Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р.

putin IS MURDERER