Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/15048
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorPonomareva, A. A.-
dc.contributor.authorMoshnikov, V. A.-
dc.date.accessioned2012-10-08T06:41:11Z-
dc.date.available2012-10-08T06:41:11Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationPonomareva A. A. Influence of solvents on Sol-Gel deposited SnO2 Gas-Sensitive film formation / A. A. Ponomareva, V. A. Moshnikov // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 23–24. – Bibliography: 8 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/15048-
dc.description.abstractThe surface topography of sol-gel deposited SiO2-SnO2 nanocomposite films obtained by using different solvents as well their optical and gas sensing properties were investigated. An approach based on the theory of fractals was used to quantify the nanostructure of sol-gel deposited films. Optical properties were measured in the UV/VIS ranges. Film properties such as Urbach energy and optical energy gap were analyzed. Basic gas sensitive characteristics (sensitivity, response and recovery time) of were derived.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectSiO2-SnO2 nanocomposite filmsuk_UA
dc.subjectsol-gel technologyuk_UA
dc.subjectgas sensitive propertiesuk_UA
dc.subjectatomic force microscopyuk_UA
dc.subjectfractal analysisuk_UA
dc.titleInfluence of solvents on Sol-Gel deposited SnO2 Gas-Sensitive film formationuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
4_23_24_OMEE_2012.pdf
  Restricted Access
62.52 kBAdobe PDFView/Open Request a copy
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.