https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/14665| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Bulanyi, M. F. | - |
| dc.contributor.author | Kovalenko, O. V. | - |
| dc.contributor.author | Omelchuk, A. R. | - |
| dc.contributor.author | Polozov, K. Yu. | - |
| dc.contributor.author | Skuratovskaya, O. V. | - |
| dc.date.accessioned | 2012-09-26T13:41:39Z | - |
| dc.date.available | 2012-09-26T13:41:39Z | - |
| dc.date.issued | 2012 | - |
| dc.identifier.citation | Physical properties of thin ZnO layers / M. F. Bulanyi, O. V. Kovalenko, A. R. Omelchuk, K. Yu. Polozov, O. V. Skuratovskaya // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 534. – Bibliography: 2 titles. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14665 | - |
| dc.description.abstract | It has been investigations the photoluminescence spectra, form of the surface and x-ray diffraction analyzing of ZnO epitaxial layers grown by VPE and MOCVD technology. | uk_UA |
| dc.language.iso | en | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.subject | zinc oxide | uk_UA |
| dc.subject | photoluminescence | uk_UA |
| dc.subject | x-ray diffraction analyzing | uk_UA |
| dc.subject | morphology of surface | uk_UA |
| dc.title | Physical properties of thin ZnO layers | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Appears in Collections: | Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р. | |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.