https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/14205
Title: | Devices and systems design reliability estimation |
Authors: | Nedostup, Leonid Bobalo, Yuriy Kiselychnyk, Myroslav Lazko, Oxana |
Bibliographic description (Ukraine): | Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45–46. – Bibliography: 3 titles. |
Issue Date: | 2012 |
Publisher: | Видавництво Львівської політехніки |
Keywords: | design reliability stress-strength models Gram-Charlier rows |
Abstract: | The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained. |
URI: | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14205 |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р. |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.