Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/14205
Title: Devices and systems design reliability estimation
Authors: Nedostup, Leonid
Bobalo, Yuriy
Kiselychnyk, Myroslav
Lazko, Oxana
Bibliographic description (Ukraine): Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45–46. – Bibliography: 3 titles.
Issue Date: 2012
Publisher: Видавництво Львівської політехніки
Keywords: design reliability
stress-strength models
Gram-Charlier rows
Abstract: The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained.
URI: https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14205
Content type: Article
Appears in Collections:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
8.pdf113.01 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.