Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/13938
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorIrkha, Vasily-
dc.contributor.authorGorbachev, Victor-
dc.contributor.authorMikhalaki, Valeriy-
dc.date.accessioned2012-08-27T13:54:12Z-
dc.date.available2012-08-27T13:54:12Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationIIrkha V. Generation of defects in Р-N-junctions that are made from GaАs and GаАlAs after the X-ray irradiation / Vasily Irkha, Victor Gorbachev, Valeriy Mikhalaki // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 499–500. – Bibliography: 3 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/13938-
dc.description.abstractThe process of generation and reproduction of dark-patch defects in GaAs and GaAlAs p-n-junctions after the X-ray irradiation are considered.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectp-n-junctionuk_UA
dc.subjectimpurity centreuk_UA
dc.subjectdark-patch defectsuk_UA
dc.subjectX-ray irradiationuk_UA
dc.titleGeneration of defects in Р-N-junctions that are made from GaАs and GаАlAs after the X-ray irradiationuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії (TCSET’2012). – 2012 р.

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
353.pdf103.07 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.