Флікер-шум елементів електроніки

Abstract

Проведено експериментальні дослідження флікер-шуму резисторів типу МЛТ-0,125 та С-2-23 з різною потужністю розсіяння та діодів типу 2D503А. Виявлено зростання рівня шумів на низьких частотах із зменшенням потужності розсіяння резисторів. На основі експериментальних результатів визначено час релаксації τ резисторів та діодів. За відомим значенням τ можна визначити рівень власних шумів елементів електроніки в практичному діапазоні частот від f1 → 0 до f2 =1·109 Гц. Experimental researches of licker-noise of resistors such as MLT-0,125 and С-2-23 with different power dispersion and diodes of 2D503А type were performed. It was found the growth of noises level on low requencies with diminishing of resistors dispersion power. Relaxation time τ of resistors and diodes was found based on the experimental results. Based оn known value of τ it is possible to figure out the level of own noises of electronic elements in the ractical range of frequencies from f1 → 0 to f2 =1·109 Hz.