Skip navigation

putin IS MURDERER

Please use this identifier to cite or link to this item: https://oldena.lpnu.ua/handle/ntb/11431
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГоляка, Р. Л.-
dc.contributor.authorЄрашок, В. Е.-
dc.contributor.authorМаксимів, І. В.-
dc.date.accessioned2012-02-09T09:46:51Z-
dc.date.available2012-02-09T09:46:51Z-
dc.date.issued2000-
dc.identifier.citationГоляка Р. Л. Дослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги / Р. Л. Голяка, В. Е. Єрашок, І. В. Максимів // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2000. – № 397 : Електроніка. – С. 32–36. – Бібліографія: 3 назви.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11431-
dc.description.abstractРозглянуто результати розробки інтегрального низьковольтного джерела опорної напруги на принципі формування напруги, яка числово дорівнює ширині забороненої зони кремнію. Проведено дослідження та аналіз стабільності дже- рела при зміні температури та напруги живлення. Results of development are discussed concerning the low-level reference voltage source based on the principle of forming a potential equivalent to the silicon bandgap width. Investigations are performed and analysis is carried out at changing temperature and supply voltage.uk_UA
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Державного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.titleДослідження та аналіз стабільності інтегрального низьковольтного джерела опорної напругиuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Електроніка. – 2000. – №397

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
06.pdf1.33 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.