Алгоритми виходу з локальних екстремумів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем

Abstract

Досліджено вплив зміни алгоритмів у задачах оптимізації розміщення елементів електронних схем для виходу з локальних екстремумів. Продемонстровано застосування стратегії ітераційної зміни алгоритму точкового сканування зі зсувом елементів та алгоритму з їх парним обміном. Експерименти виконано на тест-задачі Стейнберга. Показано, що така зміна дає змогу покращити результати оптимізації розміщення. The effect of changing algorithms to escape from local extrema for electronic circuit placement optimization is investigated. To iterative change two algorithms were used: scanning point with exchange of elements’ position and with elements’ shifting. Experiments were performed on the Steinberg test-case. Is shown that such change can improve the optimization results.